Cpk不达标的分析逻辑

Monica

假设稳态下收集的一组数据，最终Cpk未能达标
此时分析Cpk不达标的逻辑思路，谁能来介绍一下？

Leowen

我个人觉得：
1.先看Cp，如果CP都不能达到标准的话，只能说明完全失控；或者根据此项特性的失效的严重度，此规格线（LSL\USL)设置不合理；
2.按你说的Cp达到标准,Cpk不达标，且Cp-Cpk>0.5,将μ值接近M，减少中心偏差；
3.Cp达到标准,Cpk不达标,且Cp-Cpk＜0.5, 只能降低过程波动σ，这种情况往往改善困难度或者成本比较高。

就像奥运射击一样，要想拿高分
1.把高分范围弄大一点，这样容易打中高分区
2.离靶心近一点，
3.相对离靶比较近，而且每次射同一个点

石头

如果我说我是来混点积分的，Monica你会什么反应？？？

Monica

石头 发表于 2012-9-11 16:14

                               
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如果我说我是来混点积分的，Monica你会什么反应？？？

欢迎~~

Monica

石头 发表于 2012-9-11 16:14

                               
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如果我说我是来混点积分的，Monica你会什么反应？？？

我想你对这个应该还是有点看法的，不妨分享一下

Monica

是否可以这样处理：
先看Cp与Cpk差值，如果Cp-Cpk>0.5，则说明中心偏移，解决中心偏移后再看Cpk是否达标

石头

Monica 发表于 2012-9-11 17:31

                               
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是否可以这样处理：
先看Cp与Cpk差值，如果Cp-Cpk>0.5，则说明中心偏移，解决中心偏移后再看Cpk是否达标
...

我就看看，不说话。。。。

Monica

欢迎观摩

友谊的真诚

等级Cpk值处理原则   

A+≥1.67无缺点考虑降低成本  
A1.33≤Cpk＜1.67状态良好维持现状  
B1.0≤Cpk＜1.33改进为A级  
C0.67≤Cpk＜1.0制程不良较多,必须提升其能力  
DCpk＜0.67制程能力较差，考虑整改设计制程  

友谊的真诚

单边规格：只有规格上限和规格中心或只有下限或规格中心的规格;如考试成绩 不得低于80分，或浮高不得超过0.5mm等；此时数据越接近上限或下限越好； 双边规格：有上下限与中心值,而上下限与中心值对称的规格；此时数据越接近中心值越好；如D854前加工脚长规格2.8±0.2mm; USL (Upper Specification Limit):即规格上限;
LSL (Low Specification Limit): 即规格下限;
C (Center Line）：规格中心;
X=(X1+X2+… …+Xn)/n  平均值；(n为样本数)
T=USL-LSL：即规格公差；δ（sigma）为数据的标准差  
(Excel中的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ) )